Elektromagnetska kompatibilnost elektroničkih sklopova

Opis predmeta

Uvod. Osnovni izvori smetnji i načini rasprostiranja tih smetnji. Zračene i vođene smetnje, emisija i osjetljivost na smetnje. Kvaliteta signala. Mjerenje emisije smetnji iz elektroničkih sklopova ili sustava. Mjerenje osjetljivosti elektroničkih sklopova ili sustava na vanjske smetnje. Postupci za smanjenje emisija smetnji ili smanjenje osjetljivosti na vanjske smetnje.

Ishodi učenja

  1. Analizirati osnovne izvore smetnji i načine rasprostiranja tih smetnji
  2. Analizirati problem emisije vođenih ili zračenih smetnji iz elektroničkog sklopa ili sustava
  3. Razviti postupak mjerenja emisije vođenih ili zračenih smetnji smetnji iz elektroničkog sklopa ili sustava
  4. Analizirati problem osjetljivosti na vođene ili zračene smetnje elektroničkog sklopa ili sustava
  5. Razviti postupak mjerenja osjetljivosti na vođene ili zračene smetnje elektroničkog sklopa ili sustava
  6. Procijeniti koji su prikladni postupci za smanjenje emisija smetnji ili smanjenje osjetljivosti na vanjske smetnje

Oblici nastave

Predavanja

Predavanja

Samostalni zadaci

Seminar

Laboratorij

Laboratorijske vježbe

Način ocjenjivanja

Kontinuirana nastava Ispitni rok
Vrsta provjere Prag Udio u ocjeni Prag Udio u ocjeni
Laboratorijske vježbe 4 % 10 % 4 % 10 %
Seminar/Projekt 4 % 10 % 4 % 10 %
Međuispit: Pismeni 10 % 30 % 0 %
Završni ispit: Pismeni 10 % 30 %
Završni ispit: Usmeni 20 %
Ispit: Pismeni 10 % 50 %
Ispit: Usmeni 30 %

Tjedni plan nastave

  1. Važnost elektromagnetske kompatibilnosti, izvori smetnji, nivoi smetnji, imunost na smetnje, vođene smetnje, zračene smetnje
  2. Dipol, blisko i daleko polje, spekter zračenja, EMC granice, ključni parametri
  3. Tipovi prijenosnih linija, gubici prijenosnih linija, svojstva materijala
  4. Kvaliteta signala, preslušavanje, diferencijski signali i diferencijske prijenosne linije
  5. (en) Postupci mjerenja zračenja, mjerna oprema
  6. Postupci mjerenja zračenja, mjerna oprema, postupci mjerenja imunosti na smetnje, mjerna oprema
  7. Postupci mjerenja imunosti na smetnje, mjerna oprema
  8. Međuispit
  9. Modeliranje elektroničkih sklopova za EMC (IBIS, ICEM, ICIM, LECCS)
  10. Modeliranje elektroničkih sklopova za EMC (IBIS, ICEM, ICIM, LECCS)
  11. Upute za projektiranje sklopova, ciljevi, ograničenja
  12. Topologije elektroničkih sklopova za poboljšanu imunost na smetnje
  13. Topologije elektroničkih sklopova za poboljšanu imunost na smetnje
  14. Topologije elektroničkih sklopova za poboljšanu imunost na smetnje
  15. Završni ispit

Studijski programi

Sveučilišni diplomski
Audiotehnologije i elektroakustika (profil)
Izborni predmeti profila (1. semestar)
Automatika i robotika (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Elektroenergetika (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Elektroničko i računalno inženjerstvo (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Elektronika (profil)
Izborni predmeti profila (1. semestar) Slobodni izborni predmeti (1. semestar)
Elektrostrojarstvo i automatizacija (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Informacijsko i komunikacijsko inženjerstvo (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Komunikacijske i svemirske tehnologije (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Programsko inženjerstvo i informacijski sustavi (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Računalno inženjerstvo (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Računalno modeliranje u inženjerstvu (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Računarska znanost (profil)
Slobodni izborni predmeti (3. semestar) Slobodni zborni predmeti (1. semestar)
Znanost o mrežama (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)
Znanost o podacima (profil)
Slobodni izborni predmeti (1. semestar) (3. semestar)

Literatura

(.), Paul C. Clayton, Introduction to Electromagnetic Compatibility, 2nd ed., Wiley-Interscience, ISBN-13: 978-0471755005, 2006,
Henry W. Ott (2009.), Electromagnetic Compatibility Engineering, Wiley-Interscience
Henry W. Ott (1988.), Noise Reduction Techniques in Electronic Systems, Wiley-Interscience
Clayton R. Paul (2006.), Introduction to Electromagnetic Compatibility, 2nd Edition, Wiley-Interscience
Sonia Ben Dhia, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard (2006.), Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Springer Science & Business Media

Za studente

Izvedba

ID 222479
  Zimski semestar
5 ECTS
R2 Engleski jezik
R2 E-učenje
45 Predavanja
8 Laboratorijske vježbe

Ocjenjivanje

87 izvrstan
75 vrlo dobar
62 dobar
50 dovoljan