PristupačnostNa FER-u postoji više zaposlenika s imenom
The Effect of Base Doping Profile on Horizontal Current Bipolar Transistor’s (HCBT) Beta Recovery at Cryogenic Temperatures
Two Port Scattering Parameters Measurements and De-Embedding in Cryostat from 300 K down to 20 K
The Effect of Base Doping Profile on Horizontal Current Bipolar Transistor’s (HCBT) Beta Recovery at Cryogenic Temperatures
Two Port Scattering Parameters Measurements and De-Embedding in Cryostat from 300 K down to 20 K
Two Port Scattering Parameters Measurements and De-Embedding in Cryostat from 300 K down to 20 K
Nastava
Sveučilišni preddiplomski
- Mikro i nano elektronički elementi (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe, Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)
- Elektronika 1 (Laboratorijske vježbe)
- Elektronika 2 (Laboratorijske vježbe)
Sveučilišni diplomski
- Osnove mikroelektronike (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)