PristupačnostU razdoblju od 18. rujna do 1. listopada odvijao se radni posjet u sklopu projekta GRONGER na Leibniz Institute for High Performance Microelectronics (IHP), SR Njemačka. U posjetu su sudjelovali članovi grupe, studentica Karolina Japec i doktorand Mislav Matić. Karolina i Mislav upoznali su se s eksperimentalnim radom s fokusom na električna mjerenja grafena i tranzistora temeljenih na grafenu radi ekstrakcije važnih parametara poput pokretljivosti, kontaktnog otpora i otpora kanala. Dodatno u sklopu posjeta razvijena su dva programa koja omogućuju brzu i temeljitu analizu velike količine izmjerenih podataka za grafenske FET-ove i TLM strukture (od engl. transfer length method) koje se koriste za mjerenje kontaktnog otpora. Predložena su poboljšanja izrade budućih struktura te su stavljena u sljedeću iteraciju procesiranja wafera s integriranim elektroničkim komponentama temeljenim na grafenu.
