Na FER-u postoji više zaposlenika s imenom

    dr. sc. Tihomir Knežević

    Poslijedoktorand, Zavod za elektroniku, mikroelektroniku, računalne i inteligentne sustave

      Udžbenici i skripta
     

    1. Poljak, Mirko; Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav.
    Sveučilišni priručnik: Rješavanje praktičnih problema iz mikroelektroničkih komponenti i poluvodičke tehnologije .
    Zagreb : FER: Manualia Universitatis studiorum Zagrabiensis, 2015.
     
      Izvorni znanstveni i pregledni radovi u CC časopisima
     

    1. Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav.
    Indirect optical crosstalk reduction by highly- doped backside layer in single-photon avalanche diode arrays. // Optical and Quantum Electronics. 50 (2018) , 3; (članak, znanstveni).

    2. Šakić, Agata; Nanver, Lis K.; Scholtes Tom L.M.; Heerkensa, Carel Th.H.; Knežević, Tihomir; Van Veen, Gerard; Kooijman, Kees; Vogelsang, Patrick.
    Boron-layer silicon photodiodes for high-efficiency low-energy electron detection. // Solid-state electronics. 65/66 (2011) ; 38-44 (članak, znanstveni).
     
      Znanstveni radovi u drugim časopisima
     

    1. Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav.
    Silicon Drift Detectors with the Drift Field Induced by PureB-Coated Trenches. // Photonics. 3 (2016) , 4; 54-1-54-18 (članak, znanstveni).
     
      Znanstveni radovi u zbornicima skupova s međunar.rec.
     

    1. Knezevic, Tihomir; Nanver, Lis K.; Capan, Ivana; Suligoj, Tomislav.
    Non-linear behavior of Al-contacted pure amorphous boron (PureB) devices at low temperatures // Proceedings of the 41st International Convention MIPRO 2018 / Biljanovic, Petar (ur.).
    Rijeka : IEEE, 2018. 12-17 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    2. Knezevic, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav.
    2D dark-count-rate modeling of PureB single-photon avalanche diodes in a TCAD environment // Proceedings of SPIE Vol. 10526 / Witzigmann, Bernd ; Osiński, Marek ; Arakawa, Yasuhiko (ur.).
    San Francisco : SPIE, 2018. (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    3. Knežević, Tihomir; Lis K. Nanver; Suligoj, Tomislav.
    Perimeter effects from interfaces in ultra-thin layers deposited on nanometer-deep p+n silicon junctions // Proceedings of the 40th International Convention MIPRO 2017 / Petar Biljanović (ur.).
    Rijeka : Croatian Society MIPRO, 2017. 80-84 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    4. Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav.
    Indirect optical crosstalk reduction by highly- doped backside layer in PureB single-photon avalanche diode arrays // Proceedings of the 17th International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2017) / Piprek, Joachim (ur.).
    IEEE, 2017. 69-70 (poster,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    5. Berdalović, Ivan; Osrečki, Željko; Šegmanović, Filip; Grubišić, Dragan; Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav.
    Design of Passive-Quenching Active-Reset Circuit with Adjustable Hold-Off Time for Single-Photon Avalanche Diodes // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
    Rijeka : Croatian Society MIPRO, 2016. 40-45 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    6. Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav.
    Analysis of Electrical and Optical Characteristics of InP/InGaAs Avalanche Photodiodes in Linear Regime by a New Simulation Environment // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
    Rijeka : Croatian Society MIPRO, 2016. 34-39 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    7. Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav.
    Examination of the InP/InGaAs single-photon avalanche diodes by establishing a new TCAD-based simulation environment // 2016 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) / Eberhard Bar, Jurgen Lorenz, Peter Pichler (ur.).
    Nuremberg, 2016. 57-60 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    8. Janeković, Ivan; Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Grubišić, Dragan.
    Optimization of floating guard ring parameters in separate-absorption-and-multiplication silicon avalanche photodiode structure // Proceedings of the 38th International Convention MIPRO 2015 / Biljanović, Petar (ur.).
    Rijeka : GRAFIK, 2015. 37-41 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    9. Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Šakić, Agata; Nanver, Lis K.
    Modelling of Electrical Characteristics of Ultrashallow Pure Amorphous Boron p+n Junctions // MIPRO 2012 - 35th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics - Proceedings / Biljanović, Petar (ur.).
    Rijeka : Croatian Society MIPRO, 2012. 42-47 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    10. Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Šakić, Agata; Nanver, Lis K.
    Optimization of the perimeter doping of ultrashallow p+-n--n- photodiodes // MIPRO 2011 - 34th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics - Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
    Zagreb : Croatian Society MIPRO, 2011. 44-48 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    11. Shi, L.; Nanver, Lis K.; Šakić, Agata; Nihtianov, Stoyan N.; Knežević, Tihomir; Gottwald, Alexander; Kroth, Udo.
    Series Resistance Optimization of High-Sensitivity Si-based VUV Photodiodes // IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference.
    Binjiang, Hangzhou : IEEE, 2011. 1-4 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    12. Šakić, Agata; Nanver, Lis K.; Van Veen, Gerard; Kooijman, Kees; Vogelsang, Patrick; Scholtes, T. L. M.; De Boer, W. B.; Wien, W.; Milosavljević, Silvana; Heerkens, C. T. H.; Knežević, Tihomir; Spee, I.
    Versatile silicon photodiode detector technology for scanning electron microscopy with high-efficiency sub-5 keV electron detection // Technical Digest - International Electron Devices Meeting.
    San Francisco : IEEE, 2010. 31.4.1-31.4.4 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    13. Knežević, Tihomir; Žilak, Josip; Suligoj, Tomislav.
    Stress Effect in Ultra-Narrow FinFET Structures // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
    Zagreb : Croatian Society MIPRO, 2009. 89-94 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).

    14. Žilak, Josip; Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav.
    Optimization of Stress Distribution in Sub-45 nm CMOS Structures // Proceedings of 45th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials MIDEM 2009 / Topič M. ; Krč, J. ; Šorli, I. (ur.).
    Ljubljana, Slovenija : MIDEM Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials, 2009. 85-90 (predavanje,međunarodna recenzija,objavljeni rad,znanstveni).
     
      Sažeci u zbornicima skupova
     

    1. Tihomir Knežević; Lis K. Nanver; Tomislav Suligoj.
    TCAD-based Simulation Study of the 2D Dark Count Rate in InGaAs/InP Single Photon Avalanche Diodes Employing Standoff Breakdown Suppression Design // EMN Mauritius Meeting 2017 Program & Abstract.
    2017. 20-21 (pozvano predavanje,znanstveni).
     
      Diplomski radovi
     

    1. Knežević, Tihomir.
    Karakteristike FinFET struktura s ultra tankim tijelom pod utjecajem naprezanja / diplomski rad.
    Zagreb : Fakultet elektrotehnike i računarstva, 16.07. 2009., 134 str. Voditelj: Suligoj, Tomislav.
     
      Druge vrste radova
     

    1. Suligoj, Tomislav; Knežević, Tihomir.
    Avalanche Photodiode Simulations, 2014. (ekspertiza).

    2. Suligoj, Tomislav; Knežević Tihomir; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Žilak, Josip.
    PureB layers – XRD measurements and temperature characteristics, 2014. (ekspertiza).

    3. Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, Josip.
    Large Area Reverse Structure Avalanche Photodiode Simulations, 2014. (ekspertiza).

    4. Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Knežević, Tihomir; Žilak, Josip.
    Design of a scalable model of GaN devices, 2014. (ekspertiza).

    5. Suligoj, Tomislav; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, Josip.
    Spectroscopic elipsometry and Internal photoemission characterization of of PureB layers, 2013. (ekspertiza).

    6. Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, Josip.
    XPS Data interpretation of PureB layers, 2013. (ekspertiza).

    7. Suligoj, Tomislav; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Žilak, Josip.
    Optimization of diode capacitance of Annular BS detector, 2012. (ekspertiza).

    8. Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Žilak, Josip.
    Emitter Coupled Logic (ECL) Circuit Testing and Measurements in a Novel Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) Technology – 2nd Lot, 2011. (ekspertiza).
     
      Vođenje disertacija, magistarskih i diplomskih radova
     

    1. Čović, Maja.
    ANALIZA P-I-N FOTODIODA VELIKIH BRZINA RADA I OSJETLJIVOSTI / završni rad - preddiplomski studij.
    Zagreb : Fakultet elektrotehnike i računarstva, 28.01. 2011., 49 str. Voditelj: Suligoj, Tomislav.
     

    Nastava

    Sveučilišni preddiplomski

    Sveučilišni diplomski