PristupačnostNa FER-u postoji više zaposlenika s imenom
Temperature-Dependent Noise Performance of Single-Photon Avalanche Diodes and Active Quenching Circuits in 180-nm HV CMOS
Ultra-Low Dark Count Rate SPAD Fully Integrated in a 180 nm High-Voltage CMOS Process
Ultra-Low Dark Count Rate SPAD Fully Integrated in a 180 nm High-Voltage CMOS Process
Temperature-Dependent Noise Performance of Single-Photon Avalanche Diodes and Active Quenching Circuits in 180-nm HV CMOS
Layout-Dependent Noise Performance of Single- Photon Avalanche Diodes in 180 nm High-Voltage CMOS Technology
Nastava
Sveučilišni preddiplomski
- Elektronika 1 (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)
- Elektronika 1 (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)
- Elektronika 2 (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)
- Elektronika 2 (Laboratorijske vježbe)
Sveučilišni diplomski
- Osnove mikroelektronike (Auditorne vježbe, Laboratorijske vježbe)
Osobni podaci
Godina diplomiranja:
2021.